XP系列 梅特勒 精密天平 高性能精密天平 XP 精密天平系列提供至高稱量性能，并且其安全性可滿足苛刻的監管環境要求。 內置的質量管理工具可實施質量指南，并管理至多 8 個用戶的密碼和訪問權限。

XPE系列 梅特勒 精密天平 XPE 精密天平持久耐用，易于清潔，可為幾毫克至數千克的樣品提供高可讀性和可重復性。創新型 SmartPan™ 秤盤提供的穩定性使您能夠用 1 mg 讀數精度進行稱量，而無需防風罩。 即便在通風櫥內，5 和 10 mg 型號穩定時間的速度也快了兩倍。 重復性改善了兩倍。 質量管理功能（如新型 StatusLight™）可在任何實驗室中提供快速可靠的稱量。

XPE系列-梅特勒 分析天平 XPE 天平提供出色的分析稱量性能，并滿足至高的安全性、效率且易于合規。 型號：XPE105 、XPE105DR 、 XPE204 、 XPE205DR 、 XPE206DR 、 XPE304 、 XPE504 、 XPE504DR

XS超越系列-梅特勒 分析天平 超越系列XS分析天平，配合其創新選件 ，為快速高效的稱量過程設立了全新的標準。 1.簡單精確的定量加樣。 2.直觀的操作。 3.快速高效的稱量過程。 梅特勒-托利多XS系列分析天平---始終關注于至高生產力。 型號：XS105DU XS205DU XS64 XS104 XS204 XS204DR

ML-T系列 梅特勒 分析天平 直觀的天平，具有 4.5 英寸觸摸屏、多項內置應用程序以及令人印象深刻的稱量性能。 其臺面面積在同類產品中為Z小！

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